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SiC,再起风云!
== 2026/6/12 13:17:43 == 热度 189
)带有沟槽的SiC-MOSFET晶圆(效果图)(右图)沟槽式SiC-MOSFET裸芯片布局(出货样品渲染图)作为汽车零部件(核心股)巨头,博世(Bosch)最新推出的第三代(Gen
3)SiC
MOSFET平台,直指牵引逆变器在高压环境下的效率与散热痛点。它沿用了垂直沟槽架构,但演进出双通道(Dual-channel)概念。所谓双通道,即利用每个栅极沟槽的两侧侧壁同时作为导电通道。在不增加额外晶圆面积的前提下,这种设计让导电面积直接翻倍,使沟道电阻降低近一半。据悉,博世将芯片厚度减少了40%,达到100微米的目标值,这为其带来了极其优异的基体电阻表现和散热性能。博世第三代SiC MOSFET的架构改进(来源:博世)值得注意的是,沟槽技术的这把火,在 2026 年已经不仅局限于汽车动力总成,而是顺着 800V高压直流架构,一路烧到了需求暴涨的AI数据中心战场。2026年5月21日,东芝宣布,已开始出货1200V沟槽栅SiC MOSFET TW007D120E的测试样品。面向下一代 AI 数据中心和可再生能源设备的电源系统。与东芝现有产品相比,该器件将单位面积导通电阻(RDS(on)A)降低约 58%,并将品质因数 RDS(on)Qgd改善约 52%;该器件采用支持顶部冷却的 QDPAK 封装。东芝还表示,将在 2026财年为 TW007D120E 的量产做准备。(图源:东芝)然而,随着沟槽阵营的全面铺开,却有厂商踩了一下刹车。罗姆(ROHM)在业内曾以极其激进的双沟槽结构闻名,早在2015年,罗姆就开始量产沟槽型SiC

MOSFET,从其第3代和第4代产品开始,罗姆不仅在栅极(Gate)挖槽,在源极(Source)也挖槽,以此追求极致的低导通电阻。然而,其最新发布的第5代SiC
MOSFET却画风突变。第5代产品不再单纯依赖此前的标准双沟槽结构,而是转向精细化改进元件结构并优化制造工艺,据了解,通过这种方式,第5代SiC MOSFET在高温工况下将导通电阻较第四代产品降低约30%。罗姆的这一策略可能反映出一些变化:沟槽SiC并不是越激进越好。对于车规级主驱逆变器、AI服务器电源和高功率工业系统而言,低导通电阻只是第一层指标,栅氧可靠性、短路鲁棒性、开关损耗、热稳定性、制造良率和成本一致性同样关键。而英飞凌的CoolSiC自诞生起就走了一条独特的不对
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